Fraunhofer ISIT利用NI PXI平台进行MEMS惯性传感器的最终晶圆级测试
减少微机电系统(MEMS)惯性传感器最终晶圆级测试所需的测试时间、测试系统体积与整体成本,同时兼顾测量质量。
使用NI PXI平台开发了一个系统,可同步测试多达4个传感器,并支持1D ~ 6D的惯性测量单元(IMU)测量;同时针对包含3,400个传感器的单个晶圆,测试时间可缩短至3小时以内。
- 每轴使用2 X 2 模拟输出和输入组合(正弦波 + 矩形波)
- 现场可重配置门阵列(FPGA),每轴配有两个同步解调器
- 使用LabVIEW FPGA模块编写峰值检测、AC/DC测量以及数字信号处理算法,并板载部署到Xilinx Virtex-5 FPGA LX110上(板载处理可大幅缩短测试时间)
-
汽车测试网V课堂
-
微信公众号
-
汽车测试网手机站
最新资讯
-
沃尔沃XC40:小红书新宠,颜值与实力并存!
2024-04-19 17:06
-
高压涉氢试验系统安全性分析
2024-04-19 15:09
-
祝贺! Foretellix首席监管事务官GIL Amid连
2024-04-19 11:54
-
上海蔚赫信息科技有限公司到访清华大学车辆
2024-04-19 11:46
-
新能源汽车低压电气安全测试中的负载特性测
2024-04-19 11:20