2025 SEMICON China 邀请函 | TSI®与您相约E7 7806
以纳米级粒子技术迎接明天的挑战
微电子工业严重依赖半导体制造,其作为生产各种电子设备至关重要的集成电路(IC)的关键工艺。TSI为半导体制造市场的独特(纳米级)挑战提供量身定制的解决方案。我们提供先进的测量仪器,以确保最佳的环境控制和测量精度,这对于保持敏感元件的完整性和性能至关重要。从洁净室监控到工艺优化,我们的解决方案坚持半导体制造和电子组装的严格标准,在生产的每个步骤中推动创新和效率 – 提高您的盈利能力。凭借我们先进的仪器和专业知识,我们为过程控制,质量保证和洁净室监测提供关键工具。
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粒子精准监测, 提高良率,粒子监测范围10nm~25μm
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零部件洁净度测试可低至2 nm
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高纯度气体中的粒子检测可低至2 nm
TSI 期待您的莅临!
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