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2025 SEMICON China 邀请函 | TSI®与您相约E7 7806
2025-03-12 10:11:52· 来源：美国TSI
以纳米级粒子技术迎接明天的挑战
微电子工业严重依赖半导体制造，其作为生产各种电子设备至关重要的集成电路（IC）的关键工艺。TSI为半导体制造市场的独特（纳米级）挑战提供量身定制的解决方案。我们提供先进的测量仪器，以确保最佳的环境控制和测量精度，这对于保持敏感元件的完整性和性能至关重要。从洁净室监控到工艺优化，我们的解决方案坚持半导体制造和电子组装的严格标准，在生产的每个步骤中推动创新和效率 – 提高您的盈利能力。凭借我们先进的仪器和专业知识，我们为过程控制，质量保证和洁净室监测提供关键工具。
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粒子精准监测， 提高良率,粒子监测范围10nm~25μm
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零部件洁净度测试可低至2 nm
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高纯度气体中的粒子检测可低至2 nm
TSI 期待您的莅临！
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