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NI的集成式软硬件平台

功率级逆变器HIL

功率级硬件在环(pHIL)测试是对传统信号级HIL测试的扩展,包括在闭环仿真器中测试EV牵引逆变器中的电力电子电路。通过模拟EV动力总成中的电源组件,牵引逆变器验证工程师可以将其测试能力进行扩展,以在受控环境中...
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功率级硬件在环(pHIL)测试是对传统信号级HIL测试的扩展,包括在闭环仿真器中测试EV牵引逆变器中的电力电子电路。通过模拟EV动力总成中的电源组件,牵引逆变器验证工程师可以将其测试能力进行扩展,以在受控环境中安全地覆盖更广泛的测试场景和故障类型。

相对于测功机测试,pHIL测试是一种成本较低的替代方案,可减少对EV电机的需求。此外,pHIL测试还可以复制难以通过车载测试轻松实现的场景(例如,单个车轮在结冰的道路上打滑)。快速迭代更新系统,以管理迅速发展的DUT并满足上市时间要求。
客户需求01. 在所有四个象限中,以全功率仿真PMSM或感应电机的所有特性。

02. 以100 kHz或更快的循环速率运行电机和电气模型,以便达到足够高的模型精度,从而通过仿真测试逆变器。

03. 使用现有的模型、工具和工作流程快速部署。测试系统需要快速投入运行,以满足紧迫的交付时间表。

04. 对硬件进行故障插入,测试开路和短路;对软件进行故障插入,测试网络消息。


D&V和NI解决方案

01. NI PXI高速串行模块可使用光纤线缆将FPGA直接连接到D&V仿真器,确保在必要的循环速率下实现全功率并进行操作。

02. 随时将来自各种电气建模环境(如SimPowerSystems、PSIM和Multisim)的模型直接部署到NI FPGA PXI模块,以重复使用现有模型并加速开发。

03. 开路、短路和接地硬件故障插入由NI SLSC或D&V仿真器实现,而软件故障则直接在FPGA中实现。


D&V的优势
- 循环电机仿真器的占地面积更小,可降低运营成本- 通过可扩展的I/O和电力电子设备,使测试系统适应未来发展- 利用D&V集成专业知识,缩短首次测试时间

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D&V电子设备pHIL逆变器测试结构框图

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