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IT2800高精密源测量单元

ITECH艾德克斯于今日正式推出旗下图形化系列的高精密源测量单元---IT2800系列,简称源表或SMU。此次共计发布三款型号,分别是IT2801(1000V/1A/20W)、IT2805(200V/1.5A、20W)、IT2806(200V/3A DC;10A pulse/20W),...
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ITECH艾德克斯于今日正式推出旗下图形化系列的高精密源测量单元---IT2800系列,简称源表或SMU。


此次共计发布三款型号,分别是

IT2801(1000V/1A/20W)、

IT2805(200V/1.5A、20W)、

IT2806(200V/3A DC;10A pulse/20W),

其中IT2806具备10A瞬态大电流脉冲输出。以上型号完美覆盖从低压模拟芯片到高压大功率SiC/GaN等器件的晶圆测试,以及新型纳米材料、光电芯片和传感器等对电流量测精度要求较高的场合。 


IT2800系列高精密源测量单元秉承了ITECH一贯的“围绕用户需求出发”的设计理念,旨在为工程师实现高精密测试量测的同时,能够进一步降低测试成本和提升测试效率。


核 Graphical Source Measure Unit

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作为新一代的源测量单元设备,IT2800系列具备四大核心测试优势
1)集6种设备功能于一体,分别为电压源、电流源、61/2数字万用表、脉冲发生器、电池模拟器、电子负载,降低超60%的测试设备成本; 
2)大尺寸触摸屏和丰富的图形显示设计(Graph view/Scope view/Record view),UI界面能够直接获取半导体器件的伏安特性曲线以及实时记录产品的过程数据; 
3)分辨率最高可达100nV/10fA,真正的“源”“表”合一,无需改变测试接线,提升测试效率; 
4)直流DC和脉冲Pulse双重输出模式,对电流敏感型半导体器件的测试更加友好。 

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IT2800系列高精密源测量单元的正式上市,也宣告着ITECH从上游的半导体设计到中游的晶圆制造和封装测试,具备了更加完善且更具有竞争力的测试方案。IT2800系列打破传统源表的设计风格,重新定义测试,为工程师带来更加流畅的测试体验。

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